由上海市科学技术协会、上海市硅酸盐学会共同主办的“2011国际工业博览会科技论坛专题研讨会---先进无机材料多学科表征”，11月3日下午，在中国科学院上海硅酸盐研究所举行。来自本市高等院校、科研院所、部分企事业单位的科技和管理人员参加了研讨会。上海市硅酸盐学会测试分析专业委员会主任卓尚军研究员主持了研讨会。

 

研讨会上，来自日本大阪市立大学辻幸一教授，做了“工业样品化学组成的三维X射线荧光光谱分析和成像”的报告；上海第二工业大学城市建设与环境工程学院院长谢华清教授，做了“低维材料热物理性能表征”的报告；中国科学院上海硅酸盐研究所无机材料分析测试中心副主任许钫钫研究员，做了“透射电镜在先进无机材料显微结构和形貌表征方面最新技术及其应用”的报告。三位专家分别从化学、热物理，以及材料微观特征观察等不同的角度，结合自己多年的研究工作基础和实际应用，诠释了现代分析测试方法对科技和各个行业发展的重要意义。 

 

专家们的演讲深入浅出、图文并茂，举例详实，不仅使听众对现代测试分析的设备和方法有了进一步认识，而且也对材料微结构的构成和一些基本概念也有了较为清晰的了解。现代科技发展，已不再局限在物质材料的一些表象分析，或者是有损坏性的分析，科技的发展和仪器制造业的进步，给我们提供了如何从微观的层面来了解材料本征特性，如何通过诸如：纳米碳管和一些新型材料的物化测试、形貌特征分析，来知晓材料的物理、化学性能，揭开其中的内涵，进而更好地服务于新材料的研发。研讨会上，与会者还同专家们现场进行了交流互动。大家发言踊跃，学术氛围浓厚，一致感到：此次工博会专题论坛为大家了解现代测试技术的发展，提升我们对材料微观解析的学术交流档次，增进科研机构和企事业单位的交流合作搭建了良好的平台。（学会稿）